WavePulser 40iX高速互連分析儀，提供無與倫比的特征洞察力,可同時顯示時域和頻域細節(jié)

Chestnut Ridge, NY, June 4, 2019 ，力科推出WavePulser 40iX高速互連分析儀，這是一種獨特的互連測試和驗證解決方案。WavePulser 40iX是高速硬件設計人員和測試工程師理想的工具，可用于表征和分析用于高速串行協(xié)議的互連和線纜，如PCIExpress，HDMI，USB，SAS，SATA，Fiber Channel，InfiniBand，千兆以太網(wǎng)和汽車以太網(wǎng)。

到目前為止，互連測試和驗證在時域和頻域測試上被分成兩部分，對于前者，信號完整性工程師使用TDR生成阻抗曲線來表征階躍/脈沖響應，TDR的特點是空間分辨率高，能夠精確定位傳輸線的損傷，并通過阻抗曲線的變化來標注。對于后者，以高動態(tài)范圍為特征的VNA通常由微波工程師用于測量射頻（RF）器件的S參數(shù)，當用于高速互連測試時，VNA需要推導出DC響應以及用于時域仿真、time gating和抖動分析的分析工具。兩種測試儀器都不能完全滿足測試和驗證高速互連的設計工程師的需求。

WavePulser 40iX集成了時域和頻域表征功能，極大地簡化了高速互連測試和驗證的過程。在單次采集和單臺儀器中，WavePulser 40iX既可以像矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）執(zhí)行完整的S參數(shù)頻率表征，又可以像時域反射儀（TDR）執(zhí)行阻抗分析，并提供深度分析功能。WavePulser 40iX可快速自動校準，易于使用，解析物理信號路徑的復雜性，準確表征串行數(shù)據(jù)線纜纜、通道、連接器、過孔、背板、PCB，芯片和SoC封裝等。測量的S參數(shù)也可用于其他分析，包括timegating、去嵌、眼圖、優(yōu)化的均衡設置、串行數(shù)據(jù)碼型仿真和高級抖動分析。

“WavePulser40iX將時域和頻率域整合在一個儀器中，可以檢測損傷，如組裝不良的連接器、機械損壞的線纜或通道中的不連續(xù)位置，”力科信號完整性專家EricBogatin說。“僅使用頻域中的S參數(shù)就無法檢測到這種損傷，因為這些影響在DUT的頻率響應中被分散了，但WavePulser 40iX可以輕松識別和定位它們，空間分辨率小于1 mm，它還提供從DC到40 GHz的單端和混合模式S參數(shù)測量（可用于仿真）。如果沒有WavePulser 40iX，可能需要四種不同的軟件工具來測量S參數(shù)、去嵌夾具、在時域或頻域中顯示為單端或混合模式，并模擬眼圖。”